说明：  比较经典的SOC设计与测试方法培训教材 第一篇： 概述 第二篇：系统规划 第三篇：测试流程 第四篇：ATPG 第五篇：时序逻辑ATPG和DFT 第六篇：可测试性 第七篇：BIST 第八篇：嵌入式core测试 第九篇：Memory 测试
(Starting with a basic overview of system-on-a-chip (SoC) including definitions of related terms, this text explains SoC design challenges, together with developments in SoC design and and test methodologies. )