IC-testing-theory-analysis
所属分类：单片机开发
开发工具：WORD
文件大小：2168KB
下载次数：3
上传日期：2011-05-12 15:30:26
上 传 者：
Benjamin_fy
说明： IC测试原理解析,内容覆盖了基本的测试原理，影响测试决策的基本因素以及IC测试中的常用术语
(IC testing theory analysis, covering the basic testing principle, the basic factors affect the decision-making, and testing IC test commonly used terms)
文件列表:
06816@52RD_IC测试原理解析.doc (512000, 2011-03-05)
0957@52RD_四大FPGA 供应商专家谈FPGA设计诀窍.pdf (454852, 2011-03-05)
1134@52RD_0962@52RD_cp_20080821_ta.pdf (465979, 2011-03-05)
fpga经验谈.pdf (1166274, 2005-10-19)
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