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connect
connect 原因分析 
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所属分类：单片机开发
开发工具：C++
文件大小：4KB
下载次数：3
上传日期：2013-08-03 01:06:08
上 传 者：tudouwang
说明：  电子设备的接触不良原因分析，分析的很深刻。
(Electronic equipment is bad cause analysis, very deep.)
文件列表:
接触不良.txt (7914, 2008-10-22)
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