Digital-IC-ATE-testing-theory
所属分类：嵌入式/单片机/硬件编程
开发工具：WORD
文件大小：769KB
下载次数：14
上传日期：2013-08-10 12:36:59
上 传 者：
lxw2017
说明： 集成电路测试机(IC ATE)的设计理论指导文档，属于比较专业的冷门领域，国际大厂商有安捷伦、爱德万等
(IC testing machine (IC ATE) design theory guidance documents, are more popular areas of professional, international manufacturers are Agilent, Advantest, etc.)
文件列表:
Digital IC ATE testing theory.doc (1036288, 2012-08-23)
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