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开发工具：PDF
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下载次数：29
上传日期：2009-06-02 20:37:14
上 传 者：
fly5100
说明： 本文分析的环境，利用内建自测试（ BIST ）和自动测试设备（ ATE ）和提出了封闭形式表达的故障覆盖率的函数数量的BIST的和ATE测试向量。
(Analysis and Measurement of Fault Coverage
in a Combined ATE and BIST Environment)
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getPDF.pdf (585760, 2009-05-17)
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